IDF 2010: по мнению Intel, недолговечность SSD сильно преувеличена

IDF 2010: по мнению Intel, недолговечность SSD сильно преувеличена

Часть программы форума IDF 2010, организованного на этой неделе компанией Intel, была посвящена твердотельным накопителям (SSD). Это понятно, поскольку внедрение SSD является перспективным направлением развития вычислительной техники, а компания Intel — одним из ведущих производителей SSD.

Многочисленные достоинства SSD зачастую перечеркиваются опасениями в недолговечности накопителей, основой которых является флэш-память. Именно ограниченность срока службы флэш-памяти является первоочередной причиной таких опасений. В компании признают, что срок службы SSD ограничен этим фактором, поскольку износ, приводящий в конечном итоге к потере работоспособности, является принципиальной особенностью флэш-памяти. В то же время, появление неработоспособных ячеек не ведет к потере информации, поскольку оно выявляется при попытке стереть ранее записанную информацию. Наличие запасных блоков памяти позволяет контроллеру компенсировать появление неработоспособных блоков в процессе эксплуатации. Естественно, такое возможно только до той поры, пока не закончатся запасные блоки. Однако реальный срок эксплуатации при этом может оказаться существенно дольше, чем тот, который приписывают SSD пессимисты.

Вот как, по данным компании, соотносится между собой по количеству циклов стирания и записи микросхемы флэш-памяти типа NAND, выпускаемые по нормам 34-43 нм другими производителями (красный график) и Intel.

Вторым фактором, сокращающим срок службы накопителей, являются ошибки, проявляющиеся при хранении данных за счет изменения состояния отдельных битов. Как и в случае HDD, их можно обнаружить и скорректировать с помощью механизма ECC, сведя вероятность потери данных до приемлемого уровня. К сожалению, в результате стирания и записи способность ячеек флэш-память сохранять свое состояние ухудшается.

Третья причина ограниченности срока службы SSD — дефекты в чипах, неизбежные при их производстве. Они могут вызвать потерю данных и даже утрату функциональности. В случае NAND такие дефекты проявляются на раннем этапе эксплуатации, главным образом, при стирании и записи, когда к ячейкам приложено высокое напряжение.

Даже с учетом все этих факторов недолговечность SSD сильно преувеличена, считают в Intel.

Более того, есть механизм тестирования надежности и долговечности, официально принятый JEDEC. Он построен на учете общего количества информации, который можно записать в накопитель в течение всего срока его службы. Чтобы потребители могли чувствовать себя увереннее при выборе и покупке SSD, производителям достаточно тестировать свои изделия и использовать единый рейтинг, показывающий срок службы накопителя, а покупателям трезво оценивать сценарии использования и необходимую надежность. На данный момент SSD совершенно безопасно можно использовать во многих приложениях, будучи уверенным в их безотказной работе в течение нескольких лет.